用單片測試儀和光學(xué)傳感器測量晶粒取向電工鋼帶（片）磁致伸縮特性的方法

【儀表網(wǎng) 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)】近日，國家標(biāo)準(zhǔn)計劃《用單片測試儀和光學(xué)傳感器測量晶粒取向電工鋼帶(片)磁致伸縮特性的方法》編制完成并征求意見，截止時間為2023年10月17日。主要起草單位有中國計量科學(xué)研究院、桂林電器科學(xué)研究院有限公司等。注冊儀表網(wǎng)，馬上發(fā)布/獲取信息

【資料圖】

本文件提供了在頻率50 Hz或60 Hz、外加交流磁場下測量晶粒取向電工鋼帶(片)磁致伸縮特性的標(biāo)準(zhǔn)方法。磁致伸縮專家經(jīng)過深入研究后對技術(shù)細(xì)節(jié)進(jìn)行了規(guī)定，因此可預(yù)期測量再現(xiàn)性令人滿意的,因此可預(yù)期令人滿意的測量再現(xiàn)性。該測量要求以0.01μm分辨率或更高的分辨率測量試樣的微小振動。為滿足這一苛刻的條件，不僅要規(guī)定測量裝置的磁性方面，還要規(guī)定其機械方面，如摩擦力、麥克斯韋力、共振和外部振動的影響。

本文件涉及測定蝴蝶回線的磁致伸縮特性、磁致伸縮應(yīng)變的峰-峰值和零-峰值的方法。附錄E描述了聲學(xué)速度級和加速度級的附加特性。

技術(shù)報告IEC TR 62581:2010回顧了通過單片測量儀測量晶粒取向電工鋼的磁致伸縮特性的方法。多種方法已被用于測量各種試樣的長度變化。然而，對于與試樣接觸的傳感器的方法，難以避免與接觸法相關(guān)的測量偏差。此外，這些方法還需要使用特殊的技巧才能進(jìn)行測量。因此，本文件提供了使用光學(xué)傳感器的方法，即激光多普勒測振儀，滿足非接觸、高分辨率和高再現(xiàn)性的測量要求。

眾所周知，機械應(yīng)力對晶粒取向電工鋼的磁致伸縮有很大影響。與其它種類的電工鋼相比，晶粒取向電工鋼對軋制方向上的壓應(yīng)力特別敏感。這取決于材料的晶粒取向角度和表面涂層在材料上產(chǎn)生的拉應(yīng)力大小。附錄B中描述了外加壓應(yīng)力下的測量方法。

通過縮小方法的范圍，已進(jìn)行了多次磁致伸縮測量的國際循環(huán)比對1。當(dāng)允許多種方法時，采用相對標(biāo)準(zhǔn)偏差表示的測量再現(xiàn)性超過20%。當(dāng)按照本文件所述原理的測量裝置用于評估在磁極化強度峰值1.7T和磁化頻率50 Hz下沿軋制方向切割的晶粒取向電工鋼帶時，采用相對標(biāo)準(zhǔn)偏差表示的測量再現(xiàn)性小于2%。

本文件規(guī)定了用單片測量儀和光學(xué)傳感器測量晶粒取向電工鋼帶(片)磁致伸縮特性的一般原理、總則、測量程序、特性的計算、峰-峰值λp-p的再現(xiàn)性、測量裝置和測試報告。本文件適用于晶粒取向電工鋼帶(片)在頻率50Hz或60 Hz下的磁致伸縮特性測量。

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